圖湃子午眼科掃頻光學生物測量儀ZW-30
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- 產品參數
圖湃子午眼科掃頻光學生物測量儀ZW-30
津械注準20232160804
圖湃子午眼科掃頻光學生物測量儀ZW-30，作為新一代眼科測量技術的代表，以其優越的性能和完善的功能，為眼科醫生提供了測量精度和便捷性。
一、光學生物測量儀產品優勢
ZW-30的大亮點在于其子午實現全可視測量的能力。通過先進的掃頻光學技術，它能夠一次性獲取多方位全眼數據，包括角膜、晶體、玻璃體腔等關鍵部位的詳細參數。這不僅提高了數據的準確度，還大大縮短了測量時間，為患者和醫生都帶來了便利。
ZW-30還采用了EVO和KANE公式進行全眼軸與眼部全狀態的人工晶體計算。這兩種公式在眼科領域具有廣泛的應用和認可，能夠顯著提高人工晶體計算的準確性。ZW-30還支持自定義報告模板，醫生可以根據患者的具體情況和需求，生成個性化的測量報告，為手術規劃提供更加準確的數據支持。
在軟件功能方面，ZW-30同樣表現優良。它配備了前后表面地形圖、部分角膜波前像差和晶體分析功能等豐富的軟件工具，這些工具能夠為屈光性白內障手術提供準確的規劃，幫助醫生更好地評估手術風險和效果。
二、光學生物測量儀技術參數
ZW-30的技術參數同樣令人印象深刻。它采用了1060nm的中心波長，確保了測量的穩定性和準確性。掃描速度高達25000次/秒，能夠在極短的時間內完成完善的眼部測量。分辨率達到15μm，能夠捕捉到微小的眼部結構變化。同時，ZW-30還支持12方位的掃描方向，能夠全覆蓋眼部的各個角落，確保數據的完整性和準確性。
三、光學生物測量儀測量參數
ZW-30能夠測量的參數涵蓋了眼部的多個關鍵部位和指標，包括眼軸長度、中央角膜厚度、前房深度、晶體厚度、玻璃體腔長度、角膜曲率（前、后表面）、視軸偏心距、Kappa角/Alpha角、角膜直徑（白-到-白）、瞳孔直徑等。這些參數對于眼科手術的規劃和執行都至關重要。
ZW-30還支持多種人工晶體計算公式，包括SRKⅡ、SRK T、Hoffer Q、Holladay、Haigis以及Kane和EVO公式的多種組合。這些公式能夠根據不同的眼部情況和手術需求，提供準確的人工晶體計算結果，為手術的成功提供有力保障。