紅外光譜儀 Dimension IconIR
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- 產品參數
紅外光譜儀 Dimension IconIR
產品介紹
布魯克公司的大樣本Dimension IconIR系統在一個平臺上結合了納米級紅外光譜和掃描探針顯微鏡（SPM），為學術研究人員和工業用戶提供了*先進的光譜、成像和屬性測繪能力。IconIR融合了幾十年的研究和技術創新，在Dimension Icon?的行業*佳AFM測量能力的基礎上，提供了無*倫*的性能。該系統能夠實現相關的顯微鏡和化學成像，具有更高的分辨率和單層靈敏度，而其獨特的大樣本結構為*廣泛的應用提供了終*的樣本靈活性。
大樣本
*高性能的納米紅外光譜學
為各種樣品類型和應用提供更多的靈活性和性能。
相互關聯的
化學和納米級屬性圖譜
提供定量的納米化學、納米力學和納米電學數據。
亞10納米
光熱AFM-IR成像
實現了*高分辨率的表征，具有單層敏感性。
在單一系統中，IconIR為納米級紅外光譜、化學成像分辨率和單層靈敏度提供*高性能。
只有Dimension IconIR能提供。
具有準確和可重復的FT-IR相關的高性能納米紅外光譜，<10納米的化學分辨率，以及單層靈敏度
采用PeakForce Tapping?納米力學和納米電學模式進行相關的化學成像
*高性能的AFM成像和無可比擬的樣品靈活性，具有大樣品適應性*。
*廣泛的協調應用附件和AFM模式的可用范圍